X射线粉末衍射分析XRD的原理是利用 X射线在晶体中的衍射现象来测试物相结构。根据试样测试结果中各衍射线的位置、数目和相对强度等可以确定被测样品中包含的结品物质以及它们的相对含量。对改性前后氢氧化镁粉体进行 XRD 分析，通过与标准的 PDF 卡片对比和分析，可以确认表面改性后的 MH 粉体结构是否发生了变化，由此来判断表面改性剂的使用是否会对 MH 的原有结构造成破坏，并借此推断改性的反应类型和机理。与XRD结构分析相比，无机粉体因为表面有机化程度的不同，在受热分解的过程中，会表现出不同的热分解行为，因此，通过研光改性前店 NH 粉体分解过程所对应的TGA、DSC等曲线可以分析出 MH 粉体表面有机化的一些相关情况，研究表面改性剂对MH粉体的表面改性效果的影响。
